電弱點測試儀擊穿后的電壓采集能解決什么問題？

電弱點測試儀采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理，對于電弧放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護起不到任何作用。

電弱點測試儀測量準確，復現性好。測試過程采用電子技術全自動控制，遇到電弱點時電壓切斷動作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調，復現性好。本機具備多重保護功能，充分考慮了操作人員及設備的性。如過壓、過流、接地保護，試驗平臺門開啟保護。

根據薄膜的使用寬度進行電弱點的測試，測試寬度可根據用戶的要求而設定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對測試結果的影響。測試數據能真實地反映薄膜的質量水平。有效設備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。

無論是采用磁通門或霍爾原理所設計的傳感器存在材料產生弱點后后瞬間輸出電壓或電流信號過大，從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分。低濾波電流采集傳感器將高頻雜波信號進行相應處理。

采用雙系統(tǒng)互鎖技術應用于電弱點測試儀器，電弱點測試儀器不僅具備過壓、過流保護系統(tǒng)，雙系統(tǒng)互鎖機制，當任何元器件出現問題或單系統(tǒng)出現故障時，將瞬間切斷高壓。技術，。

薄膜材料擊穿后，瞬間放電速度約為光速的1／5～1／3，國際通用的方法為壓降法進行采集擊穿電壓。即變壓器的初電壓瞬間下降一定比率來判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產生偏差。而采用多循環(huán)采集技術對擊穿后的電壓采集將解決此難題。